ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ 3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов

Handling time: 14 days В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую тему включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце курса помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-те

#ASTTD# Search Terms: Э. В. Суворов. , E. V. Syvorov. , Юрайт , Urait , Высшее образование , Visshee obrazovanie , 9785534172034 , 978-5-534-17203-4 , 2031201