Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 2-е изд. , испр. И доп. Учебное пособие для вузов

Handling time: 14 days Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

#ASTTD# Search Terms: Илюшин А. С., Орешко А. П. , Ilushin A. S., Oreshko A. P. , Юрайт , Urait , Русский , Rysskii , Высшее образование , Visshee obrazovanie , 9785534043242 , 978-5-534-04324-2 , 895572